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actas de congreso
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European Workshop on CMOS Variability (VARI)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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European Workshop on Smart Objects: Systems, Technologies and Applications

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ISBNs: 978-3-8007-3282-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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European Workshop on Visual Information Processing (EUVIP)

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ISBNs: 978-1-4244-7288-8 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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European Workshop on Visual Information Processing (EUVIP)

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ISBNs: 978-1-4577-0072-9 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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European Workshop on Visual Information Processing (EUVIP)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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European Workshop on Wireless Sensor Networks (EWWSN)

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ISBNs: 0-7803-8801-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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EUROSOI-ULIS 2015: 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon

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ISBNs: 978-1-4799-6912-8 (impreso) 978-1-4799-6911-1 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2015 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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EUSAR 2021; 13th European Conference on Synthetic Aperture Radar

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ISBNs: 978-3-8007-5457-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

tesis Acceso Abierto
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Evaluación ampliada de procesos a partir del proyecto COMPETISOFT

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Autores/as: Leonardo Aníbal Fernández ; Rodolfo Alfredo Bertone

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No requiere 2017 CIC Digital (SNRD) acceso abierto
No requiere 2017 SEDICI: Repositorio Institucional de la UNLP (SNRD) acceso abierto

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

Las pequeñas y medianas empresas de software (pymes) constituyen un porcentaje importante en el sector informático del país pero, por sus características particulares, tienen dificultades para acceder a mecanismos de certificación de calidad. Por este motivo se estudian modelos de calidad adecuados a sus características y envergadura. El modelo Competisoft proporciona un esquema basado en las mejores prácticas internacionales, fácil de aplicar y accesible en costos, con el objetivo de que su adopción constituya la base para que la empresa logre evaluaciones exitosas con otros modelos o normas de calidad. EVAP COMPETISOFT es una aplicación destinada a la evaluación de la capacidad de proceso orientada a pymes, basada en los criterios del modelo COMPETISOFT. Con esta herramienta se pretende contribuir a la mejora de la calidad del proceso de desarrollo de software en las Pymes y a la determinación de un diagnóstico sobre la capacidad de procesos de las empresas en general, que sirva como base para definir mecanismos orientados a la calidad del software.
libros Acceso Abierto
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Evaluating Information Retrieval and Access Tasks: NTCIR's Legacy of Research Impact

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No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática