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Microelectronics, 2008. ICM 2008. International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-2369-9 (impreso) 978-1-4244-2370-5 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronics, 2008. MIEL 2008. 26th International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-1881-7 (impreso) 978-1-4244-1882-4 (en línea)

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No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microopics Conference (MOC), 2011 17th

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ISBNs: 978-1-4577-1344-6 (impreso)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microoptics Conference (MOC), 2013 18th

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microprocesses and Nanotechnology Conference, 2004. Digest of Papers. 2004 International

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ISBNs: 4-99024720-5 (impreso)

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No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microprocesses and Nanotechnology Conference, 2005 International

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ISBNs: 4-9902472-2-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microprocesses and Nanotechnology, 2007 Digest of papers

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ISBNs: 978-4-9902472-4-9 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microprocessor Test and Verification (MTV'04), Fifth International Workshop on

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ISBNs: 0-7695-2320-X (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microprocessor Test and Verification (MTV), 2009 10th International Workshop on

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ISBNs: 978-1-4244-6479-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microprocessor Test and Verification (MTV), 2010 11th International Workshop on

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ISBNs: 978-1-61284-287-5 (impreso)

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No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales