Biblioteca Electrónica de Ciencia y Tecnología

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 0-7695-2706-X (impreso)

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No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-3365-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-2885-4 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE Jordan Conference on Applied Electrical Engineering and Computing Technologies (AEECT)

ISBNs: 978-1-4799-2305-2 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica

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IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS)

ISBNs: 978-1-4799-2506-3 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2014	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE Latin-American Conference on Communications (LATINCOM)

ISBNs: 978-1-4673-0277-7 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE National Aerospace and Electronics Conference: Proceedings of the IEEE National Aerospace & Electronics Conference (NAECON)

ISBNs: 978-1-4577-1040-7 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales

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IEEE Ninth International Conference on Dependable, Autonomic and Secure Computing (DASC)

ISBNs: 978-1-4673-0006-3 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

revistas Acceso Abierto

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IEEE Open Journal of Signal Processing

ISSNs 2644-1322 (en línea)

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No requiere	desde ene. 2020 / hasta oct. 2026	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías

revistas Acceso Abierto

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IEEE Open Journal of the Industrial Electronics Society

ISSNs 2644-1284 (en línea)

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Institución detectada	Período	Navegá	Descargá	Solicitá
No requiere	desde ene. 2020 / hasta oct. 2026	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

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IEEE National Aerospace and Electronics Conference: Proceedings of the IEEE National Aerospace & Electronics Conference (NAECON)

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IEEE Ninth International Conference on Dependable, Autonomic and Secure Computing (DASC)

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