Biblioteca Electrónica de Ciencia y Tecnología

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-2885-4 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Distributed Simulation and Real-Time Applications (DS-RT)

ISBNs: 0-7695-2232-7 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Distributed Simulation and Real-Time Applications (DS-RT)

ISBNs: 0-7695-2462-1 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Distributed Simulation and Real-Time Applications (DS-RT)

ISBNs: 0-7695-2697-7 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Distributed Simulation and Real-Time Applications (DS-RT)

ISBNs: 978-0-7695-3011-6 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Electromagnetics (iWEM)

ISBNs: 978-1-4799-6654-7 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Electromagnetics, Applications and Student Innovation (iWEM)

ISBNs: 978-1-61284-462-6 (impreso) 978-1-61284-461-9 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Future Trends of Distributed Computing Systems (FTDCS)

ISBNs: 0-7695-2118-5 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Visual Surveillance and Performance Evaluation of Tracking and Surveillance (WVSPETS)

ISBNs: 0-7803-9424-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Visualizing Software for Understanding and Analysis (VISSOFT)

ISBNs: 978-1-4577-0822-0 (impreso) 978-1-4577-0821-3 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica

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