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Microelectronic Systems Education, 2005. (MSE '05). Proceedings. 2005 IEEE International Conference on

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ISBNs: 0-7695-2374-9 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Systems Education, 2007. MSE '07. IEEE International Conference on

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ISBNs: 0-7695-2849-X (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Systems Education, 2009. MSE '09. IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-4407-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Systems Symposium (MESS), 2014

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2010 IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-6912-3 (impreso) 978-1-4244-6914-7 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2011 IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-8526-0 (impreso) 978-1-4244-8528-4 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2012 IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4673-1027-7 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2013 IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4673-4845-4 (impreso) 978-1-4673-4847-8 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2014 International Conference on

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ISBNs: 978-1-4799-2193-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures, 2004. Proceedings. ICMTS '04. The International Conference on

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ISBNs: 0-7803-8262-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales